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簡(jiǎn)要描述：E4981A電容E4981A 電容表可以為生產(chǎn)線上的陶瓷電容器測(cè)試提供高速、可靠的測(cè)量。
產(chǎn)品型號(hào)：E4981A廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2025-06-06訪 問(wèn) 量：708產(chǎn)品分類CLASSIFICATION
詳細(xì)介紹
| 品牌 | KEYSIGHT/美國(guó)是德 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
E4981A電容表-是德科技
E4981A 電容表可以為生產(chǎn)線上的陶瓷電容器測(cè)試提供高速、可靠的測(cè)量。
Keysight E4981A 電容表性能zhuo越，是陶瓷電容器制造測(cè)試的理想選擇。 E4981A 憑借出色的測(cè)量速度和準(zhǔn)確度而享譽(yù)業(yè)界。
高速測(cè)量：2.3 ms（1 MHz）、3.0 ms（1 kHz）、11.0 ms（120 Hz）
準(zhǔn)確的 C-D 測(cè)試：0.07%，0.0005
9 料倉(cāng)分選
256 多通道校正
SCPI 命令和機(jī)械手/掃描儀接口與 4268A 和 4288A 兼容
在高值陶瓷電容器測(cè)試中測(cè)試信號(hào)電平補(bǔ)償
通用個(gè)人電腦連通性（LAN、USB 和 GPIB）
測(cè)量速度快——2 ms（1 MHz 時(shí)從觸發(fā)到 EOM 的時(shí)長(zhǎng)）
準(zhǔn)確、可重復(fù)的測(cè)量，即使是小電容也可以測(cè)量。
寬廣的電容量程：0 F 至 2.0 mF
（0 F 至 1.5 nF/1 MHz）
（68 pF 至 200 nF/1 kHz）
（6.8 nF 至 2 mF/120 Hz）
兼容 4268A 和 4288A
SCPI 命令
機(jī)械手 I/F
掃描儀 I/F
適用于生產(chǎn)測(cè)試的增強(qiáng)功能
增強(qiáng)的接觸故障檢測(cè)
同步電源
1 MHz 時(shí)的頻移（±1%、±2%）
數(shù)據(jù)傳輸速度更快
E4981A 電容表可以為生產(chǎn)線上的陶瓷電容器測(cè)試提供高速、可靠的測(cè)量。 E4981A 能夠準(zhǔn)確測(cè)量從低值到高值的電容。 E4981A 電容表有助于提高陶瓷電容器測(cè)試的吞吐量，同時(shí)確保獲得質(zhì)量出眾的元器件。
技術(shù)資料
本文檔提供了Keysight Technologies，Inc.E4981A電容計(jì)的規(guī)格和補(bǔ)充信息。所有規(guī)格適用于0°C至45°C溫度范圍內(nèi)的條件，除非另有說(shuō)明，并在儀器已打開30分鐘后。
目錄
定義和規(guī)格
測(cè)量顯示范圍
可用測(cè)量范圍
可用測(cè)量范圍
可用測(cè)量范圍
環(huán)境溫度超過(guò)18～28°C范圍時(shí)的精度（典型值）
施加交流磁場(chǎng)時(shí)的精度
測(cè)量精度
補(bǔ)充資料
測(cè)量信號(hào)
測(cè)量時(shí)間
顯示時(shí)間
測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸時(shí)間
測(cè)量輔助功能
一般規(guī)格
電磁兼容、安全、環(huán)境和合規(guī)性
電磁兼容、安全、環(huán)境和合規(guī)性
測(cè)量精度的樣本計(jì)算
樣品
當(dāng)測(cè)量參數(shù)為Cp-D（或Cs-D）時(shí)
當(dāng)測(cè)量參數(shù)為Cp-Q（或Cs-Q）時(shí)
當(dāng)測(cè)量參數(shù)為Cp-G時(shí)
當(dāng)測(cè)量參數(shù)為Cp-Rp時(shí)
當(dāng)測(cè)量參數(shù)為Cs-Rs時(shí)
應(yīng)用文章
介紹
今天，元器件制造商需要更高的生產(chǎn)率和元器件產(chǎn)量，以便提供更低成本的產(chǎn)品，更快的交貨和更高的可靠性，以與非常激烈的競(jìng)爭(zhēng)競(jìng)爭(zhēng)。因此，大多數(shù)元器件生產(chǎn)商需要使用掃描儀進(jìn)行阻抗測(cè)試，以提高生產(chǎn)率和控制其產(chǎn)品的質(zhì)量。然而，使用掃描器進(jìn)行測(cè)量不同于使用普通測(cè)試夾具進(jìn)行測(cè)量。有必要減少由于延長(zhǎng)電纜和掃描儀中存在的殘余阻抗而產(chǎn)生的測(cè)量誤差。本應(yīng)用說(shuō)明描述如何采用使用LF LCR計(jì)和LF阻抗分析儀與掃描儀的測(cè)量系統(tǒng)，以及如何解決使用掃描系統(tǒng)時(shí)可能產(chǎn)生的殘余阻力相關(guān)的問(wèn)題。此外，本說(shuō)明涵蓋了實(shí)際的掃描系統(tǒng)實(shí)例，如電子元件的溫度特性評(píng)估和絕緣電阻測(cè)量。
設(shè)計(jì)掃描系統(tǒng)
本節(jié)首先介紹設(shè)計(jì)掃描系統(tǒng)的關(guān)鍵點(diǎn)，然后解釋系統(tǒng)
配置、特殊考慮因素，以及為處理這些問(wèn)題而設(shè)計(jì)的解決方案。
審查所需規(guī)格
掃描系統(tǒng)的示例如圖1所示。該掃描系統(tǒng)允許一臺(tái)測(cè)量?jī)x器通過(guò)切換到另一臺(tái)測(cè)量許多被測(cè)設(shè)備（DUT）。當(dāng)您設(shè)計(jì)掃描系統(tǒng)時(shí)，您必須選擇掃描器和電纜配置。為此，您應(yīng)澄清對(duì)系統(tǒng)的測(cè)量要求（規(guī)格）。要復(fù)核的規(guī)格包括測(cè)量精度、DUT的阻抗、測(cè)試頻率和掃描器通道的數(shù)目。所需的測(cè)量精度將決定掃描系統(tǒng)中允許的最大殘余阻抗和雜散電容。此外，測(cè)量值和測(cè)試頻率要求由電纜配置決定。通道數(shù)目決定您應(yīng)選擇的掃描器類型。
選擇電纜配置
掃描儀所使用的電纜配置取決于所要測(cè)量的阻抗值，如表1所示，有兩種電纜配置可供選擇:四端對(duì)（4TP）和屏蔽雙端（2T），使用4TP配置可在寬阻抗和頻率范圍內(nèi)達(dá)到最高精度，但由于每個(gè)測(cè)量通道需要許多電纜和開關(guān)，因此硬件成本增加；另一方面，如果DUT的阻抗大于100歐姆，且測(cè)量頻率范圍高于100 kHz，則可以使用屏蔽2T配置，屏蔽2T配置可讓您以較低的系統(tǒng)成本擁有最大數(shù)量的測(cè)量通道。
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